扫描电子显微镜系统
X射线能谱元素分析仪
测试项目:
1.电子显微形貌分析
2.表面微区元素定性分析
3.表面微区元素半定量分析
技术指标 :
1.放大倍率：30 – 800,000
2.最佳分辨：1.0 纳米
3.元素探测：B(5) – U(92)
测试联系人：
张立功 0431-86176310
