功能介绍：可对包括金属、矿物、塑料、药物、催化剂、纳米材料等多种材料实施晶体结构和相分析。常用于对催化剂、分子筛样品的物相鉴别，物相定量，结晶度测定，晶格点阵参数的测定。配备变温样品池和高压原位样品池后，此设备还可以进行变温（高温）、原位衍射分析。
该衍射仪最小测量角度为0 .5度，最大光管功率2.2 kW, 入射光路和衍射光路采用预校准模块，配有多种固定狭缝。带有超能探测器，扫描速度很快，在常规的X射线功率下，数分钟即可完成大角度范围的扫谱测量。配备的自动进样器，可对批量样品实施快速测定。
测试方法：该仪器样品测试操作简单，多采用平面样品台。样品颗粒度要求在200目左右，测试时，取少量（几毫克）粉末样品装入平板玻璃样品槽，压实刮平后，即可将样品槽放置到平面样品台进行测试扫谱；扫谱完成后，利用开数据检索和处理软件进行分析和处理。
测试联系人:
段洪敏 84379148－805、812
徐斐斐 84379148－803、812
