Tecnai G2 F30 场发射枪透射电镜

制造商：荷兰FEI 公司
主要技术指标：
点分辨率：0.20 nm
线分辨率：0.10 nm
物镜球差系数：1.2mm
物镜色差系数：1.4mm
信息分辨率：0.14nm
HE STEM分辨率：0.17nm
电子枪类型：肖特基场发射枪
                       

          常用附件：
Gatan UltrascanCCD相机
STEM-HAADF Detector
EDAX EDX Detector
Gatan EELS Detector
样品冷却台
低背底侧插双倾台
样品拉伸台
Gatan 明场/暗场（BF/DF）探头

          主要用途：
透射电镜样品形貌，相应选区电子衍射观察
高分辨电子显微像观察
应用扫描模式进行样品表面形貌分析
微衍射及相干电子衍射观察；
配合STEM-HAADF探头进行Z-衬度像分析；
配合特征X射线能谱仪(EDS)进行纳米尺度成分分析
配合能量过滤像系统 (GIF)观察纳米尺度元素分布图
配合电子能量损失谱系统(EELS)进行电子能量损失谱分析